Кристаллическая структура силикатов

Тонкое строение кристаллических силикатов установлено только в последнее время, главным образом путем рентгеновских исследований. Определение структуры при помощи рентгеновских лучей показало, что кристаллические силикаты образуют координационные решетки, которые в первом приближении можно  рассматривать как ионные. Принцип строения всех исследованных до сих пор кристаллических силикатов одим и тот же, и он основан на образовании кислородных тетраэдров вокруг каждого иона Si4+, причем расстояние Si→О равно около 1,60 Å. Если на каждый ион Si4+ стсхиометрически приходится меньше четырех иопов О3-, то этот принцип построения сохраняется благодаря тому, что ионы О2- могут быть общими для соседних тетраэдров. Между отрицательными комплексными ионами, состоящими из отдельных тетраэдров SiO4 или из тетраэдров, соединенных между собой общими ионами О2-, расположены положительны ионы, участвующие в построении кристалла. Эти ионы располагаются возможно дальше друг от друга, и, как вообще в координационных решетках. группируют вокруг себя как можно ближе и больше отрицательных ионов (в данном случае ионов О2- тетраэдров SiO4). На основании внутреннего строения силикаты подразделяют на соединения с островными структурами, с цепочечными и ленточными, структурами, со слоистыми и с пространственными, сетчатыми структурами.

Ваш отзыв

Вы должны войти, чтобы оставлять комментарии.

Опубликовано 28 Июл 2012 в 11:11. Рубрика: Химия элементов. Вы можете следить за ответами к записи через RSS.
Вы можете оставить отзыв или трекбек со своего сайта.